SPURENLOSES TESTEN
Die Kontaktierung auf dem Prüfling erfolgt mit Federkontakten, welche auch für den Halbleitertest verwendet
werden. Mit dieser Kontakttechnologie und angepasster mechanischer Konstruktion kann der Kontaktpunkt auf
dem Prüfling so eingestellt werden, dass nahezu keine Kontaktspuren entstehen.
Ab 0,3 mm Pitch
Immer mehr Kontakte auf immer weniger Raum erfordern ein Höchstmaß an Präzision. Yamaichi Electronics hat
sich auf hochpräzise Testlösungen spezialisiert und bietet Testsockel ab einem Pitch von 0,3 mm in höchster
Material- und Fertigungsqualität.
HOCHWERTIGE MATERIALIEN
Yamaichi Electronics verwendet für seine Testsockel ausschließlich hochqualitative Materialien. Die Gehäuse
werden aus PEEK und eloxiertem Aluminium gefertigt. Das Grundmaterial der geprüften Probe Pins besteht aus
einer Beryllium-Kupfer-Legierung und die Probe Pins werden mit einer Nickel-Gold-Oberfläche ausgeführt.
Extrem langlebig
Yamaichi Electronics garantiert für jeden FPC/FFC-Testsockel bis zu 50.000 Steckzyklen. Der Testsockel kann
auch
auf die Kundenbedürfnisse angepasst werden. Auf Wunsch wird die passende Leiterplatte gleich mitgeliefert.
▪ ds
